CONTROLWAY应用丨科瑞白光干涉薄膜测厚传感器：薄膜厚度在线精密测量的专业解决方案

　　在3C电子、光伏、锂电、半导体、医疗、包装、光学材料、显示材料等行业和领域，透明薄膜是不可或缺的关键材料，其厚度均匀性直接决定了产品性能、使用体验与市场竞争力。然而，透明薄膜具有“连续生产、表面敏感、厚度超薄”等特性，传统测厚方式难以满足高精度、高效率、无损伤的测量需求。

　　面对透明薄膜测厚的诸多难题，科瑞CONTROLWAY的白光干涉薄膜测厚传感器凭借非接触测量、高精度、高效率、强兼容性等优势，为透明薄膜测厚提供了全新的专业解决方案，完美契合行业生产需求。

产品优势

　　科瑞CONTROLWAY的白光干涉薄膜测厚传感器，在透明薄膜厚度在线精密测量方面，具有独特的优势：

　　非接触式测量

　　白光干涉薄膜测厚传感器采用光学干涉原理，通过采集上下表面反射的干涉信号进行厚度计算，整个测量过程无需与薄膜表面直接接触。这一特性有效避免了传统接触式测厚仪对透明薄膜造成的划伤、压痕等损伤，显著提升产品良率，降低企业生产成本。

　　超高精度

　　纳米级的测量精度，满足不同行业的高精度要求。

　　高速在线测量

　　透明薄膜通常采用连续卷式生产，生产速度快，传统离线抽样检测方式效率低，难以实时监控生产过程中的厚度变化，易导致大量不合格产品产生。白光干涉薄膜测厚传感器支持高速在线测量，可与薄膜生产线同步运行，测量速度可达10kHz，能实时采集薄膜不同位置的厚度数据，并通过配套软件实时生成厚度趋势图，数据可与设备系统对接、匹配声光报警系统。生产人员可根据实时数据及时调整生产参数，如调整材料参数、挤出机温度、牵引速度等，避免不合格产品批量生产，提高产品合格率。

　　宽工作距离

　　测量距离50±2mm，即使被测薄膜有±2mm的高度波动，也可以稳定可靠的测量，适应产线的振动环境。

　　可测量多层透明体

　　对于多层透明膜叠加在一起的特殊情况，也可以一次就测量出每一层膜的厚度。

　　抗干扰能力强

　　可根据实际工况调节传感器的各项光学参数、并抑制环境光干扰，准确识别被测薄膜的界面。

　　透明薄膜广泛应用于诸多核心行业，不同领域对其厚度有着严苛要求，一旦厚度出现偏差，将引发一系列质量问题，甚至造成重大损失。但传统测厚手段存在诸多局限，难以适配行业发展需求。现在，白光干涉薄膜测厚传感器凭借独特的技术优势，正在成为透明薄膜测厚领域的“精准测量专家”，为各行业提供薄膜厚度在线精密测量的专业解决方案。

产品特点

　　⬤ 测量范围：1μm~100μm的透明薄膜的厚度

　　⬤ 超快的采样速度：10kHz

　　⬤ 超高的重复精度：1nm

　　⬤ 超高的线性精度：<±20nm

　　⬤ 信号输出：模拟量、RS485、Ethernet、USB

　　⬤ 可测量：透明薄膜、胶水、涂层、多层透明体等的厚度